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產(chǎn)品詳細(xì)
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技術(shù)參數(shù)
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技術(shù)特點(diǎn)
掃描測頭
掃描測頭每秒能夠采集幾百個表面點(diǎn)，可以測量形狀、尺寸和位置。掃描測頭也可用于采集離散點(diǎn)，與觸發(fā)式測頭類似。
雷尼紹提供了一系列解決方案，供各種尺寸和配置的坐標(biāo)測量機(jī)選用。
SP25M
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具有掃描和觸發(fā)式模塊的25 mm直徑掃描測頭
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SP600
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高性能檢測、數(shù)字化和輪廓度掃描
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軸套式安裝掃描測頭，選用長測針仍能保持最佳性能
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掃描原理
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掃描測量提供了一種從規(guī)則型面工件或其他復(fù)雜工件上高速采集形狀和輪廓度數(shù)據(jù)的方法。
觸發(fā)式測頭可采集表面離散點(diǎn)，而掃描系統(tǒng)則可獲取大量的表面數(shù)據(jù)，提供更詳細(xì)的工件形狀信息。因此，在實(shí)際應(yīng)用中如果工件形狀是整個誤差預(yù)算的重要考量因素或必須對復(fù)雜表面進(jìn)行檢測，掃描測量可謂理想之選。
掃描需要根本不同的傳感器設(shè)計、機(jī)器控制和數(shù)據(jù)分析方法。
雷尼紹掃描測頭獨(dú)具特色的輕巧無電源機(jī)構(gòu)(無馬達(dá)或鎖定機(jī)構(gòu))，具有高固有頻率，適合高速掃描測量。分離的光學(xué)測量系統(tǒng)直接(無需通過測頭機(jī)構(gòu)中的疊加軸)測量測針的偏移量，以獲得更高的精度和更快的動態(tài)響應(yīng)。
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掃描系統(tǒng)如何采集并分析表面數(shù)據(jù)?
掃描測頭提供連續(xù)的偏移量輸出，與機(jī)器位置相結(jié)合，從而獲得表面位置數(shù)據(jù)。進(jìn)行掃描測量時，測頭測尖開始與工件接觸，然后沿工件表面移動，采集測量數(shù)據(jù)。在整個測量過程中，須將測頭測針的偏移量保持在測頭的測量范圍內(nèi)。
要想取得最佳測量結(jié)果，需要傳感器與機(jī)器控制緊密集成，以及先進(jìn)的濾波運(yùn)算，以將合成數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為可用的表面信息。掃描驅(qū)動算法適用于工件輪廓測量，改變掃描速度使之匹配曲率的變化(表面越平，速度越快)，然后調(diào)整數(shù)據(jù)采集速率(表面變化越快，采集的數(shù)據(jù)越多)。
